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信息存儲應用技術(shù)
  • 頁緩沖器、存儲器裝置及其編程方法與流程
    本公開涉及頁緩沖器、存儲器裝置及其編程方法。、閃速存儲器是一種可以被電擦除和重新編程的低成本、高密度、非易失性固態(tài)存儲介質(zhì)。閃速存儲器包括nor閃速存儲器和nand閃速存儲器。閃速存儲器可以執(zhí)行各種操作,例如讀取、編程(寫入)和擦除。對于nand閃速存儲器,可以在塊級執(zhí)行擦除操作,可以在頁...
  • 易失性存儲器裝置、存儲器控制器和存儲器系統(tǒng)的制作方法
    本公開涉及易失性存儲器裝置、存儲器控制器和存儲器系統(tǒng)。、隨著諸如人工智能(ai)、大數(shù)據(jù)和邊緣計算的技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了在裝置中更快地處理更大量數(shù)據(jù)的需求。換句話說,執(zhí)行復雜計算的應用需要更快的數(shù)據(jù)處理。、此外,由于生成ai模型的擴大,需要相當多的資源和時間來學習或推斷人工智能模型。在該處理...
  • 半導體裝置及其制造方法與流程
    本公開的實施例涉及集成電路技術(shù),具體地,涉及半導體裝置和半導體裝置的操作方法。、近年來,隨著電子裝置的小型化、低功耗、高性能、多樣化等,需要能夠在諸如計算機和便攜式通信裝置的多種電子設備中存儲信息的半導體裝置。這種半導體裝置大致可以分為易失性存儲器裝置和非易失性存儲器裝置。易失性存儲器裝置...
  • 存儲裝置及其操作方法與流程
    實施例涉及一種集成電路技術(shù),并涉及一種存儲裝置及其操作方法。、最近,隨著電子設備尺寸的減小、功耗的降低和性能的提高以及多樣化,多種電子設備(如計算機和便攜式通信設備)需要能夠存儲信息的存儲裝置。、由于存儲裝置對溫度敏感,因此正在對通過在被驅(qū)動時檢查溫度來選擇其適合當前溫度的操作方法的存儲裝...
  • 處理針對目標地址的讀取命令的存儲器系統(tǒng)和方法與流程
    本公開的實施例涉及用于處理針對目標地址的多個讀取命令的存儲器系統(tǒng)和方法。、存儲器系統(tǒng)可以存儲數(shù)據(jù),并且可以使用易失性存儲器或非易失性存儲器來實施。在易失性存儲器(例如,sram或dram)中,當切斷電源時,存儲的數(shù)據(jù)丟失,而在非易失性存儲器(例如,nand閃存、pram或mram)中,即使...
  • 磁盤裝置的制作方法
    本發(fā)明的實施方式涉及磁盤裝置。、作為磁盤裝置,已知在盤的半徑方向上隔開間隔對多個磁道進行寫入的通常記錄(conventional?magnetic?recording:cmr)型式(或以往記錄型式)的磁盤裝置、在盤的半徑方向上對多個磁道進行重疊寫入的瓦記錄(shingled?magneti...
  • 存儲器模型的建立方法及存儲器電路的模擬方法與流程
    本發(fā)明涉及一種方法,尤其涉及一種存儲器模型的建立方法及存儲器電路的模擬方法。、一般來說,在讀取串聯(lián)連接的反及門(nand)快閃存儲器時,會施加讀取電壓在選中存儲單元上,并施加通過電壓在未選中存儲單元上,來讀取存儲于選中存儲單元中的數(shù)據(jù)值。然而,由于串聯(lián)連接的關(guān)系,選中存儲單元的讀取操作所讀...
  • 半導體器件、存儲器和電子設備的制作方法
    本公開實施例涉及但不限于半導體的器件設計,具體涉及一種半導體器件、存儲器和電子設備。、存儲器包括易失性存儲器和非易失性存儲器。其中,易失性存儲器包括:動態(tài)隨機存取存儲器(dynamic?random?access?memory,簡稱dram)和靜態(tài)隨機存取存儲器(staticrandom?...
  • 一體式唱機的制作方法
    本申請涉及音頻播放,特別涉及一種一體式唱機。、唱機的應用場景廣泛,可以應用于諸如家庭、咖啡館、酒吧、婚禮、派對等各種場合。唱機通過讀取唱片來生成音頻信號,并通過音箱播放音頻信號來產(chǎn)生音樂。、相關(guān)技術(shù)中,唱機與音箱通常是分離式的,不便于使用和移動?;诖耍饾u出現(xiàn)了一體式的唱機,將唱機與音箱...
  • 一種存儲器的數(shù)據(jù)讀取方法、存儲設備和存儲介質(zhì)與流程
    本申請主要涉及計算機,特別是涉及一種存儲器的數(shù)據(jù)讀取方法、存儲設備和存儲介質(zhì)。、nand中重讀率是影響其性能的重要因素之一。在閃存操作中,如果某個數(shù)據(jù)塊由于各種原因造成讀取錯誤,系統(tǒng)可能會多次進行嘗試以確保正確讀取數(shù)據(jù)。重讀率越高,意味著數(shù)據(jù)讀取操作所需的時間和能耗也會相應增加。為降低重讀...
  • 磁盤驅(qū)動器懸架的制作方法
    本發(fā)明涉及一種磁盤驅(qū)動器懸架,其包括可擺動的滑塊安裝部,一滑塊安裝于該滑塊安裝部上。、硬盤驅(qū)動器(hdd)用于信息處理裝置,例如個人計算機中。該硬盤驅(qū)動器包括繞主軸旋轉(zhuǎn)的磁盤、繞樞軸轉(zhuǎn)動的托架等。托架包括臂部,并通過音圈電機等定位電機繞樞軸旋轉(zhuǎn)。、磁盤驅(qū)動器懸架(以下簡稱“懸架”)安裝于托...
  • 存儲器裝置的制作方法
    本公開涉及一種存儲器裝置。、諸如動態(tài)隨機存取存儲器(dram)的存儲器裝置包括連接到字線和位線的存儲器單元。存儲器裝置通過位線將數(shù)據(jù)存儲在存儲器單元中,或者讀出存儲在存儲器單元中的數(shù)據(jù)。存儲器裝置可以通過輸入/輸出線將數(shù)據(jù)傳送到位線,或者可以從位線接收數(shù)據(jù)。、列選擇晶體管可以連接在輸入/輸...
  • 用于表查找的存儲器的處理單元的制作方法
    本公開大體上涉及存儲器,且更特定來說,涉及用于表查找的存儲器的處理單元。、存儲器裝置通常被提供為計算機或其它電子裝置中的內(nèi)部半導體集成電路。存在許多不同類型的存儲器,其包含易失性及非易失性存儲器。易失性存儲器可能需要電力來維持其數(shù)據(jù),且包含隨機存取存儲器(ram)、動態(tài)隨機存取存儲器(dr...
  • 讀出放大器電路、包括讀出放大器電路的存儲器裝置以及存儲器裝置的感測方法與流程
    本公開涉及讀出放大器電路、包括該讀出放大器電路的存儲器裝置以及該存儲器裝置的感測方法。、在存儲器裝置的讀取操作或刷新操作期間,讀出放大器可以通過檢測位線與互補位線之間的電壓差來感測存儲單元的數(shù)據(jù)。隨著存儲器裝置變得更高度集成,存儲單元尺寸縮小且位線負載增加,并且因此可能難以維持電壓差的裕度...
  • 防震裝置的制作方法
    本發(fā)明涉及一種儲存設備的防震技術(shù),具體而言涉及一種防震裝置,借以能在檢知地震震度超過設定值時,可以快速限制及保護該儲片塔上的半導體元件,以避免半導體元件受震動而脫出,同時可增加能增加半導體元件的儲放容量。、隨著網(wǎng)絡及通訊技術(shù)的進步與提升,再加上智能手機、電動汽車、iot物聯(lián)網(wǎng)及ai智能科技...
  • 存儲器裝置及存儲器系統(tǒng)的制作方法
    本公開是有關(guān)于一種存儲器技術(shù),特別是關(guān)于一種存儲器裝置及存儲器系統(tǒng)。、歐幾里得距離是兩個點在歐幾里得空間中的最短距離,并且可以用來作為一般的標尺以測量兩個數(shù)據(jù)點之間的相似度。歐幾里得距離也被應用于各種領(lǐng)域,例如幾何、數(shù)據(jù)挖掘、深度學習及其他。然而,用于計算歐幾里得距離的存儲器裝置可能穩(wěn)定性...
  • 存儲器、存儲器的控制方法、存儲芯片和電子設備與流程
    本申請涉及存儲,特別涉及一種存儲器、存儲器的控制方法、存儲芯片和電子設備。、閾值電壓漂移是指存儲單元的閾值電壓隨著時間逐漸升高的現(xiàn)象,是影響存儲芯片存儲數(shù)據(jù)準確性的重要因素。、在相關(guān)技術(shù)中,為了應對閾值電壓漂移對存儲單元的影響,存儲芯片可以為存儲單元設置多個檔位的讀電壓。存儲芯片在讀取某個...
  • 一種磁帶機設備及存儲系統(tǒng)的制作方法
    本申請涉及磁帶,尤其涉及一種磁帶機設備及存儲系統(tǒng)。、磁帶是一種用于記錄聲音、圖像、數(shù)字或其他信號的載有磁層的帶狀材料。磁帶中附著有磁性介質(zhì),如磁粉等用于存儲數(shù)據(jù)的介質(zhì)。在存儲技術(shù)中,磁帶以其低成本,高可靠,安全的優(yōu)勢是備份、歸檔等場景存儲介質(zhì)的最佳選擇。以磁帶機(tape?drive)為例...
  • 一種閃存顆粒篩選分級方法與流程
    本發(fā)明屬于存儲器,涉及一種閃存顆粒篩選分級方法。、隨著固態(tài)硬盤(ssd)技術(shù)的快速發(fā)展,閃存顆粒作為ssd的核心組成部分,其質(zhì)量和可靠性對整個設備的性能和穩(wěn)定性至關(guān)重要。然而,目前市面上的閃存顆粒質(zhì)量存在較大差異,好片差片混在一起使用會給終端產(chǎn)品帶來極大的風險。此外,隨著nand?flas...
  • 帶電固態(tài)硬盤的測試方法、裝置、設備及存儲介質(zhì)與流程
    本申請涉及存儲設備,具體涉及一種帶電固態(tài)硬盤的測試方法、裝置、設備及存儲介質(zhì)。、固態(tài)硬盤(ssd)作為核心數(shù)據(jù)存儲部件,在高溫高濕等惡劣環(huán)境下的可靠性成為關(guān)鍵質(zhì)量指標。當前,電子元器件環(huán)境可靠性測試領(lǐng)域已有多種標準測試方法,如jedec、iec等國際標準組織制定的相關(guān)規(guī)范。這些測試方法主要...
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